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            产品资料

            涂层测厚仪MiniTest2500/4500

            如果您对该产品感兴趣的话,可以
            产品名称: 涂层测厚仪MiniTest2500/4500
            产品型号:
            产品展商: 其它品牌
            产品文档: 无相关文档

            简单介绍

            德国EPK(Elektrophysik)公司涂层测厚仪MiniTest2500/4500作为MiniTest1100-4100系列的升级产品,为涂层测量领域的广泛任务提供了多种探头、不同的校准方法和评估选项。 MiniTest 2500/4500涂层测厚仪具有IP65防护等级, 人机工程学设计,高对比度显示屏和背光键盘,以及其他有用的功能??纱娲⒍啻?00万个测量值,通过USB接口向计算机传输数据。MiniTest4500还提供蓝牙连接。 MiniTest1100-4100系列的探头都兼容于涂层测厚仪MiniTest2500/4500 - 钢上的非磁性涂层厚度范围可达0~50 mm - 用于有色金属上的绝缘涂层厚度范围可达0~100 mm - 耐高温探头,温度高达250°C和350°C - 测量细管内壁的直角加长杆探头 - 所有探头都配有耐磨表面,确保使用寿命。


            涂层测厚仪MiniTest2500/4500  的详细介绍

            功能介绍

             

            MiniTest2500

            MiniTest4500

               可存储的读数总数
              
            *大批组数量
              
            具有独立校准值的应用程序存储数量
              
            具有相同校准值的批组每个应用程序存储的批组数量

            2000000
            1
            -
            -

            2000000
            超过9500
            99
            99

               统计功能(每批组)

            kvar, n, max., min.

            kvar, n, max., min., CP, CPK

               校准

            -

            如果无基材使用,则通过涂层进行校准(CTC)

               补偿功能

            -

            用于从读数中加/减一个恒定值

               极限设置(用户自定义)

            -

            超出限制时的光信号和声音信号报警

               测量单位

            μm, mm, cm, mils, inch

               接口
              
            可升级接口

            USB
            -

            USB和蓝牙 4.0
            报警输出,脚踏开关触发,RS 232接口

               电源/每次更换电池的工作时间

            3 x AA (LR06) 电池和USB/大约为150小时(不使用背光)

               规范和标准

            DIN EN ISO1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882;ISO 19840;
            ASTM B244,B499, D7091, E376

               显示

               53 x 46 mm,带背光

               操作温度/存储温度

               10 ~60°C / –20 ~ 70°C

               尺寸/重量

            53mm x 89mm x 36mm/ 320g(仪器包括电池),橡胶?;ぬ?/span>90g

               防护等级

            IP 65

            可选探头

            所有探头都可配合任一主机使用。在选择*适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。

            探头

            量程

            低端
            分辨率

            误差

            *小曲率
            半径(/)

            *小测量
            区域直径

            *小基
            体厚度

            F05

            0-500μm

            0.1μm

            ±(1%+0.7μm)

            0.75/5mm

            3mm

            0.1mm

            F3

            0-3000μm

            0.2μm

            ±(1%+1μm)

            1.5/10mm

            5mm

            0.5mm

            F10

            0-10mm

            5μm

            ±(1%+10μm)

            5/16mm

            20mm

            1mm

            F20

            0-20mm

            10μm

            ±(1%+20μm)

            10/30mm

            40mm

            2mm

            F50

            0-50mm

            10μm

            ±(3%+50μm)

            50/200mm

            300mm

            2mm

            N02

            0-200μm

            0.1μm

            ±(1%+0.5μm)

            1/5mm

            2mm

            50μm

            N.08Cr

            0-80μm

            0.1μm

            ±(1%+1μm)

            2.5mm

            2mm

            100μm

            N10

            0-10mm

            10μm

            ±(1%+25μm)

            25/100mm

            50mm

            50μm

            N20

            0-20mm

            10μm

            ±(1%+50μm)

            25/100mm

            70mm

            50μm

            N100

            0-100mm

            100μm

            ±(1%+0.3mm)

            100mm/平面

            200mm

            50μm

            FN1.6

            0-1600μm

            0.1μm

            ±(1%+1μm)

            1.5/10mm

            5mm

            F0.5mm/N50μm

            FN1.6/90

            0-1600μm

            0.1μm

            ±(1%+1μm)

            平面/6mm

            5mm

            F0.5mm/N50μm

            F2HT

            0-2000μm

            0.2μm

            ±(1%+1μm)

            1.5/10mm

            5mm

            0.5mm

            注:

            F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
            N
            型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
            FN
            两用探头:同时具备F型和N性探头的功能
            FN1.6/90
            为直角探头,用于管内测量
            N.08Cr
            用于测量铜上镀铬。
            F2HT
            为高温探头,有两款,允许在高达250°C350° C表面温度的热表面上进行涂层厚度测量

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